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  • 產品名稱：OTSUKA大塚電子nanoSAQLA粒徑儀 塔瑪薩崎代理

  • 產品型號：
  • 產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：
OTSUKA大塚電nanoSAQLA粒徑儀塔瑪薩崎電子代理ELSZneo通過光散射評估物理性能到一個新的階段。除了在稀溶液~濃溶液中測量zeta電位和粒徑外，還可以測量分子量。 作為一項新功能，采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。 它還可用于凝膠的顆粒濃度測量、微流變測量和網絡結構分析。
詳情介紹：

OTSUKA大塚電子nanoSAQLA粒徑儀塔瑪薩崎電子中國代理

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特征
  • 使用一個單元輕松連續測量 1 個樣品 連續測量多個樣品，這在沒有自動進樣器的情況下
    是困難的，
    可以在不同條件下進行測量。
  • 從精益到豐富的支持
  • 高速測量，標準測量時間為1分鐘 自動調整從致密樣品到稀釋樣品的*佳測量位置，實現約1分鐘的高速測量
  • 配備簡易測量功能（一鍵即可開始測量）
    無需復雜的操作，簡單易懂的軟件
  • 內置非浸沒式電池塊，實現無污染 無污染，因為
    每個細胞都是獨立的
  • 配備
    溫度梯度功能 輕松設定溫度

 

測量范圍（理論值）
  • 粒徑 0.6nm~10μm
  • 濃度范圍 0.00001~40%
  • 溫度范圍 0~90°C*
使用不同溶劑連續測量 5 個樣品

氧化鋁的粒度評估氧化鋁的粒度評估

 

使用溫度梯度功能的測量

牛形成阿布辛（BSA）的溫度依賴性對粒徑的影響
牛形成阿布辛（BSA）的溫度依賴性對粒徑的影響

 

測量粒徑范圍廣

【細顆粒】硫胺素0.6nm的粒徑評價
【細顆粒】硫胺素0.6nm的粒徑評價

【大顆粒】乳膠10360nm的粒徑評價【大顆?！咳槟z10360nm的粒徑評價

 


代理品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設備、液晶層間隙量測設備等）、SANKO三高、NPM日脈、東機產業（粘度計）、CCS（視檢查光源）、Aitec（視檢查光源）、REVOX萊寶克斯（視檢查光源）、EYE巖崎（UV汞燈）、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源 索尼克（風速計、流量計等）、坂口電熱（加熱器、制冷片）、NEWKON新光（針孔機）、NS精密科學（柱塞泵、高壓耐腐蝕防爆泵）   、SIBATA柴田科學、SAKURAI櫻井

優勢品牌：AND艾安得、TOA-DKK東亞電波、JIKCO吉高、RKC理化工業、KYOWA共和、IIJIMA飯島電子、HORIBA堀場、EXCEL艾庫斯、HEIDON新東科學、USHIO牛尾、TOPCON拓普康、ORC歐阿西、SEKONIC日本世光、Tokyokoden東京光電、DSK電通、SAGADEN嵯峨電機、FUNATECH船越龍、HIKARIYA光屋、POLARION普拉瑞、HAYASHI林時計、MACOME碼控美、TML東京測器等等各日本品牌工業產品

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理、直營各日本品牌工業產品，聯系人：張小姐

聯系電話（微信）：15902189399 


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