熱門搜索：
代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機、NEWKON新光、TOKISANGYO東機產業、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
產品中心
-
Stucchi思多奇
-
NITTO KOHKI日...
-
Sankei
-
KYOWA協和工業
- DIT東日技研
- AITEC艾泰克
-
SIGMAKOKI西格瑪...
- REVOX萊寶克斯
- CCS 希希愛視
- SIMCO思美高
- POLARI0N普拉瑞
- HOKUYO北陽電機
- SSD西西蒂
- EMIC 愛美克
- TOFCO東富科
-
打印機
- HORIBA崛場
- OTSUKA大冢電子
- MITAKA三鷹
- EYE巖崎
- KOSAKA小坂
-
SAGADEN嵯峨電機
- TOKYO KEISO東...
- takikawa 日本瀧...
- Yamato雅馬拓
- sanko三高
- SEN特殊光源
-
SENSEZ 靜雄傳感器
- marktec碼科泰克
- KYOWA共和
- FUJICON富士
- SANKO山高
-
Sugiyama杉山電機
-
Osakavacuum大...
-
YAMARI 山里三洋
- ACE大流量計
- KEM京都電子
- imao今尾
- AND艾安得
- EYELA東京理化
- ANRITSU安立計器
- JIKCO 吉高
- NiKon 尼康
- DNK科研
- Nordson諾信
- PISCO匹斯克
- NS精密科學
- NDK 日本電色
-
山里YAMARI
- SND日新
-
Otsuka大塚電子
- kotohira琴平工業
- YAMABISHI山菱
- OMRON歐姆龍
- SAKURAI櫻井
- UNILAM優尼光
- ONO SOKKI小野測...
-
U-Technology...
- ITON伊藤
- chuhatsu中央發明...
- TOADKK東亞
- HOYA豪雅
- COSMOS日本新宇宙
-
UENO上野精機
- DSK電通產業
-
POLARION普拉瑞
- LUCEO魯機歐
- ThreeBond三鍵
-
HAMAMASTU濱松
-
TML東京測器
- SHINAGAWA SO...
- IMV愛睦威
- custom 東洋計量
- yuasa 尤阿薩
- HAYASHI林時計
- SIBATA柴田科學
- SEN日森特殊光源
-
HSK 平原精機
-
SOMA相馬光學
- iwata巖田
- MUSASHI武藏
- USHIO牛尾
- ACTUNI阿庫圖
- ORC歐阿希
- DRY-CABI德瑞卡比
- COSMO科斯莫
-
SHOWASOKKI昭和...
-
CHUBUSEKI中部精...
-
SAMCO薩姆肯
- navitar 納維塔
- ASKER 高分子計器
- KOSAKA Labor...
- EMIC愛美克
-
OPTEX奧泰斯
- NISSIN日進電子
- TANDD 蒂和日
- FUJI TERMINA...
- TAKASAGO高砂
- TAKIKAWA瀧川
- SUGAWARA菅原
- MACOME碼控美
-
FURUKAWA古河
-
TSUBOSAKA壺坂
- mitutoyo 三豐
- HAYASHI 林時計
- HOZAN 寶山
- FEI SEM電子顕微鏡
- YUASA尤阿薩
- SAKAGUCHI坂口電...
-
MDCOM 株式會社
-
inflidge 英富麗
- RKC 理化工業
- MORITEX茉麗特
- LIGHTING 光屋L...
- TEITSU帝通
- Excel聽音機
- SERIC索萊克
-
FUJI富士化學
-
TONCON拓豐
-
SHINKO新光電子
- Ono Sokki 小...
- 樂彩
- IIJIMA 飯島電子
- THOMAS托馬斯
- JIKCO吉高
- 分散材料研究所
-
NAVITAR納維塔
- Cho-Onpa 超音波...
- revox 萊寶克斯
- Toki Sangyo ...
- SUPERTOOL世霸
- EIWA榮和
- FUJITERMINAL...
- TOYOX東洋克斯
- AMAYA天谷制作所
-
TSUBAKI NAKA...
- TOPCON 拓普康
- NIKKATO日陶
- ITOH伊藤
- NEWKON新光
- SIBATA柴田
-
TAISEI
-
MITSUI三井電氣
-
加熱器
- SEN日森
熱門品牌展示
產品展示
-
國內總代kosaka小板精密緊湊高性能的測量SE500A株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創立的公司，也是日本一家發表光學杠桿表面粗糙度計，是一家具有悠久歷史與技術背景的業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為具代表性單位且在日本精密測定業占有一席無法被取代的地位 國內總代kosaka小板 非接觸式探測器總代
-
國內總代kosaka小板精密緊湊高性能的測量SE500A株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創立的公司，也是日本一家發表光學杠桿表面粗糙度計，是一家具有悠久歷史與技術背景的業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為具代表性單位且在日本精密測定業占有一席無法被取代的地位 kosaka小板表面粗糙儀載物臺驅動型國內總代
-
國內總代kosaka小板精密緊湊高性能的測量SE500A株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創立的公司，也是日本一家發表光學杠桿表面粗糙度計，是一家具有悠久歷史與技術背景的業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為具代表性單位且在日本精密測定業占有一席無法被取代的地位 總代kosaka小板精密緊湊高性能的3D測量
-
國內總代kosaka小板精密緊湊高性能的測量SE500A株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創立的公司，也是日本一家發表光學杠桿表面粗糙度計，是一家具有悠久歷史與技術背景的業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為具代表性單位且在日本精密測定業占有一席無法被取代的地位 日本KOSAKA小坂粗糙度儀SE800粗糙儀總代理
-
國內總代kosaka小板精密緊湊高性能的測量SE500A株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創立的公司，也是日本一家發表光學杠桿表面粗糙度計，是一家具有悠久歷史與技術背景的業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為具代表性單位且在日本精密測定業占有一席無法被取代的地位 表面粗糙測定儀SE300小坂KOSAKA塔瑪薩崎總代理
-
國內總代kosaka小板精密緊湊高性能的測量SE500A株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創立的公司，也是日本一家發表光學杠桿表面粗糙度計，是一家具有悠久歷史與技術背景的業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為具代表性單位且在日本精密測定業占有一席無法被取代的地位 小坂KOSAKA臺階儀表面粗糙測定儀SE300-30總代
-
國內總代kosaka小板精密緊湊高性能的測量SE500A株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創立的公司，也是日本一家發表光學杠桿表面粗糙度計，是一家具有悠久歷史與技術背景的業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為具代表性單位且在日本精密測定業占有一席無法被取代的地位 ET4000M???合理、高性能的通用微形測量機
-
國內總代非接觸式探測器KOSAKA小坂可測量12~500微米非接觸式測量允許在不損壞樣品的情況下進行測量。 緊湊的光學布置可實現內徑的表面紋理測量，這在現有的非接觸式檢測器中是困難的。
-
國內總代載物臺驅動表面粗糙度測量KOSAKA總代這種工作臺移動測量機具有很高的直線度測量精度，可以輕松準確地測量小而**的零件。 使用數字秤進行數字采樣 檢測器固定移動工作臺式
-
國內總代日本KOSAKA小坂粗糙度儀測量SE800國內總代它可以根據ISO，JIS，DIN，ASME和BS等國際標準以及每個國家的新舊標準進行測量。 為此，可以使用各種濾波器、截止值、測量長度和計算方法。
-
國內總代kosaka小板精密緊湊高性能的測量儀器SE500A它可強力執行表面粗糙度、波紋度測量和階梯測量。 它支持多種參數，可以同時分析多個標準。 它是一種精密、緊湊和高性能的測量機，具有高度可擴展性，適用于所有應用。
-
總代日本小坂KOSAKA表面粗糙度儀 SE800(3D)它可以根據ISO，JIS，DIN，ASME和BS等國際標準以及每個國家的新舊標準進行測量。 為此，可以使用各種濾波器、截止值、測量長度和計算方法。
-
國內總代kosak小板精密緊湊高性能的測量儀器SE500A它可強力執行表面粗糙度、波紋度測量和階梯測量。 它支持多種參數，可以同時分析多個標準。 它是一種精密、緊湊和高性能的測量機，具有高度可擴展性，適用于所有應用。
-
KOSAKA小坂研究所SEF580A-G18/D（KOSAKA）是于1950年創立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層以及平板顯示等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實現高精度表面形貌分析應用
