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株式會社小坂研究所(KOSAKA)是于 1950 年創立的公司,也是日本一家發表光學杠桿表面粗糙度計,是一家具有悠久歷史與技術背景的業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為具代表性單位且在日本精密測定業占有一席無法被取代的地位 ET4000M???合理、高性能的通用微形測量機KOSAKA小坂高精度自動測量樣品臺階儀ET8000國內總代
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日本**代理KOSAKA小坂ET4000M臺階儀這款全自動微形狀測量機具有出色的精度、穩定性和功能性,是測量 FPD 基板、晶圓、KOSAKA小坂探針式輪廓儀ET4000A臺階儀國內總代硬盤等的精細形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外,您可以從多種型號中進行選擇,以滿足您的應用需求。 ET4000A??多功能全自動微形測量機 ET4000L?可處理大尺寸的全自動微形測量機 ET4000M???合理、高性能的通用微形測量機
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代理KOSAKA小坂探針式輪廓儀ET4000L臺階儀總代這款全自動微形狀測量機具有出色的精度、穩定性和功能性,是測量 FPD 基板、晶圓、KOSAKA小坂探針式輪廓儀ET4000A臺階儀國內總代硬盤等的精細形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外,您可以從多種型號中進行選擇,以滿足您的應用需求。 ET4000A??多功能全自動微形測量機 ET4000L?可處理大尺寸的全自動微形測量機 ET4000M???合理、高性能的通用微形測量機
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這款全自動微形狀測量機具有出色的精度、穩定性和功能性,是測量 FPD 基板、晶圓、KOSAKA小坂探針式輪廓儀ET4000A臺階儀國內總代硬盤等的精細形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外,您可以從多種型號中進行選擇,以滿足您的應用需求。 ET4000A??多功能全自動微形測量機 ET4000L?可處理大尺寸的全自動微形測量機 ET4000M???合理、高性能的通用微形測量機
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小坂臺階儀膜厚儀探針接觸式ET200A-3D國內總代 它是2D表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇,可實現高精度,高分辨率和出色的穩定性,并且還支持測量力小的軟樣品表面。 ET200A:表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇 ET200A-D:配備電動Y軸單元 ET200A-3D:D 表面粗糙度分析和階躍差測量的理想選擇
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Kosaka小坂ET200A粗糙度三維6寸臺階儀總代 它是2D表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇,可實現高精度,高分辨率和出色的穩定性,并且還支持測量力小的軟樣品表面。 ET200A:表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇 ET200A-D:配備電動Y軸單元 ET200A-3D:D 表面粗糙度分析和階躍差測量的理想選擇
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華東總代KOSAKA小坂高精度測量樣品尺寸臺階儀ET8000 可以高精度自動測量樣品尺寸高達 2200×2600 mm 的大型工件。 還有一個加載/卸載樣品的選項。
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華東總代 KOSAKA臺階儀ET-4000M薄膜測厚儀這款全自動微形狀測量機具有出色的精度、穩定性和功能性,是測量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外,您可以從多種型號中進行選擇,以滿足您的應用需求。
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華東總代 KOSAKA臺階儀ET4000L薄膜測厚儀這款全自動微形狀測量機具有出色的精度、穩定性和功能性,是測量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外,您可以從多種型號中進行選擇,以滿足您的應用需求。
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華東總代 KOSAKA臺階儀ET4000薄膜測厚儀這款全自動微形狀測量機具有出色的精度、穩定性和功能性,是測量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外,您可以從多種型號中進行選擇,以滿足您的應用需求。
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國內總代日本小坂KOSAKA臺階儀微細形狀測定機ET200A-3D 能**可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨 損度、薄膜應力等多種表面形貌技術參數。 ET200A 配備了各種型號探針,提供了通過過程控制接觸力和垂直范圍的探頭,彩色CCD 原位采集設計,可直接觀察到探針工作時的狀態,更方便準確的定位測試區域。
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國內總代日本小坂KOSAKA臺階儀微細形狀測定機ET200A-D 能**可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨 損度、薄膜應力等多種表面形貌技術參數。 ET200A 配備了各種型號探針,提供了通過過程控制接觸力和垂直范圍的探頭,彩色CCD 原位采集設計,可直接觀察到探針工作時的狀態,更方便準確的定位測試區域。
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國內總代日本小坂KOSAKA臺階儀微細形狀測定機ET200AET200A 能**可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨 損度、薄膜應力等多種表面形貌技術參數。 ET200A 配備了各種型號探針,提供了通過過程控制接觸力和垂直范圍的探頭,彩色CCD 原位采集設計,可直接觀察到探針工作時的狀態,更方便準確的定位測試區域。
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江蘇總代FP3030 KOSAKA小坂臺階儀細孔測量機*小測量孔直徑 φ10μm~/ *大測量長度300×300×300微米/測量分辨率10納米/測量力 0.1μN以下/移動軸 (X,Y,Z)305×370×52毫米/*大樣本量φ300毫米 T=50毫米
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華東總代KOSAKA小坂臺階儀FP-Labo 細孔測量機*小測量孔直徑φ10μm~*大測量長度300×300×300微米/測量分辨率10納米/測量力 0.1μN以下/移動軸 (X,Y,Z)50×50×52毫米/*大樣本φ160毫米 T=50毫米