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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子半導體SiC測厚儀OPTM-F3，OTSUKA大塚半導體行業Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等檢測
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子半導體SiC測厚儀OPTM-F2，OTSUKA大塚半導體行業Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等檢測
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子顯微分光膜厚儀OPTM-F1，OTSUKA大塚半導體行業Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等檢測
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子自動XY型OPTM-A2顯微分光膜厚儀，OTSUKA大塚半導體行業Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等檢測
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子自動XY型OPTM-A1顯微分光膜厚儀，OTSUKA大塚半導體行業Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等檢測
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支持OLED用偏光板、層疊型相位差板、IPS液晶相位差板偏光板等各種薄膜的相位差測量裝置。 實現與超高 Re.60000 nm 兼容的高速、高精度測量。 可以“無剝離”和“無損”測量薄膜的層壓狀態。 此外，它配備了簡單的軟件和校正功能，支持由于樣品重新定位而導致的錯位，從而實現簡單且高精度的測量。
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除了可以進行高精度薄膜分析的光譜橢偏儀外，我們還通過實現測量角度的自動可變機構來支持所有類型的薄膜。除了傳統的旋轉式光子檢測器方法外，還通過提供相位差板的自動裝卸機構提高了測量精度。
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它是一種緊湊且價格低廉的薄膜厚度計，通過高精度光學干涉法實現薄膜厚度測量，操作簡單。 我們采用一體式外殼，將必要的設備容納在主體中，實現穩定的數據采集。 可以通過以低廉的價格獲得優良反射率來分析光學常數。
