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文章詳情

PF-60點(diǎn)自動對焦表面形狀測量機(jī)MITAKA三鷹光器

日期：2024-10-16 07:25

瀏覽次數(shù)：180

摘要：PF-60點(diǎn)自動對焦表面形狀測量機(jī)MITAKA三鷹光器,MITAKA三鷹光器,點(diǎn)自動對焦表面形狀測量機(jī),

MITAKA 三鷹光器 | 點(diǎn)自動對焦表面形狀測量機(jī)
型號：PF-60
是否進(jìn)口：進(jìn)口
產(chǎn)品概述：
● 廣范圍、高精度測量。
● 具有Scan AF的高速測定模式。
● 與粗糙度的國際標(biāo)準(zhǔn)具有高度相關(guān)性。
● 標(biāo)配的MitakaMap軟件，可對應(yīng)ISO國際標(biāo)準(zhǔn)的2D/3D表面粗糙度/形狀測量標(biāo)準(zhǔn)。
● 緊湊的尺寸，只需要400mm x 400mm 的空間即可安裝。設(shè)備重量31kg。

より早く
より簡単に
より高精度に

インデックス測定の50倍速を可能にするスキャンAF機(jī)能と高精度自動XYステージにより、數(shù)十mmオーダーの広範(fàn)囲をサブμmレベルの測定精度で高速に測定する事を?qū)g現(xiàn)しました。
斷面曲線では検出できない精密加工部品の反り測定、成型品の形狀**、トライボロジーにおける摩耗量や傷の定量評価に*適です。

特長

広範(fàn)囲、高精度測定

半徑R0.5μｍのレーザプローブと高精度XYステージにより、數(shù)十mmオーダーの範(fàn)囲をサブμｍレベルの測定精度で、ダイレクトに測定します。

フレネルレンズ X= 4.498mm Y＝4.501mm Z=4.733μm

回折格子 X= 4.498mm Y＝4.501mm Z=4.733μm

高速三次元測定

高速スキャンAF機(jī)能により、広範(fàn)囲 / 高速測定を?qū)g現(xiàn)しました。
従來は1時(shí)間20分かかっていた測定時(shí)間が6分で可能に。

間隔用標(biāo)準(zhǔn)片 XY= 0.8mm x 0.8mm

斷面測定測定時(shí)間僅か15秒/8000點(diǎn)

優(yōu)れた角度追従性

高感度AFセンサが表面からの僅かな反射光を捕捉。急斜面や段差のダイレクト精密測定を可能にします。

小徑ギヤ(モジュール0.3) X=2mm Y＝2mm Z=723μm

測定結(jié)果 *大傾斜角度85度を可能に

測定畫面でワークをモニタしながら測定

見て測る。簡単操作で高度測定が可能です。
観察用の低倍レンズと測定用の高倍レンズの切り替えがスライドのワンタッチ操作で容易に可能です。

対物切り替え

測定畫面

ISOが認(rèn)めた測定方式

2008年に本測定法をISO規(guī)格の“面領(lǐng)域の表面性狀の分類(ISO 25178-6)”に非接觸測定法として提案し、“Point Autofocus Profiling”と命名され、2014年2月にISO 25178-605 : Point Autofocus Probeとして公布されました。

測定概要

PF-60はZ軸の高さ測定用のオートフォーカス(AF)顕微鏡とスキャニング用高度精度XYステージにより構(gòu)成されます。
AF顕微鏡により高さ方向の位置を測定し、XY、ステージ上のワークを移動させることでXYZの座標(biāo)値を取り込み、形狀測定を行います。

スキャニングXYステージ

高精度XYステージを駆使させて座標(biāo)軸を読み込む方式であるため、可動範(fàn)囲內(nèi)(60mm x 60mm)で連続して測定が可能です。視野範(fàn)囲などの測定精度がないため測定データをつなぎ合わせる必要がなく、広範(fàn)囲の高精度測定が可能です。

ポイントフォーカス式

高さ測定用のAF顕微鏡に組み込まれたレーザ光は上図の赤いラインのような光路で対物レンズを通り、半徑0.5μmのレーザプローブとして測定ワーク表面に結(jié)像します。
ワーク表面のレーザプローブ反射光は再び対物レンズを通り、AFセンサ上に結(jié)像しますが、レーザプローブがフォーカス位置から移動するとAFセンサ上のスポットの位置も変化します。AFセンサはスポットの位置変位をリアルタイムで検出し、常にセンサ中心にスポットが來るようにAF軸機(jī)構(gòu)部を動作させることでAF顕微鏡を位置決めします。