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  • EC2150圓度和圓柱形測量機KOSAKA小坂總代它是一種任何人都可以輕松使用的高精度圓度和圓柱形測量機。旨在減輕操作員的負擔，安裝空間減少了 30%。具有自動定心/傾斜功能的高精度轉臺分析單元可以在多個窗口中顯示數據表。通過操縱桿和自動停止開關輕松操作無需 PC 機架，節省安裝空間壓力表放在前面，便于確認氣壓。靈活的顯示器臂可讓您將顯示器自由移動到易于查看的位置
  • 浙江總代KOSAKA小坂EC1850H圓度和圓柱形測量配備高精度自動工作臺，從點滴/定心到數據表打印的全自動測量機。心臟打開和傾斜調節是全自動的。自動測量。
  • EC1650H圓度圓柱形測量KOSAKA小坂華東總代合理的EC1650H充滿**性的測量“高精度和快速”高分辨率濾波器采用2CR普通型、2CR和高尚相位補償型。
  • 國內總代KOSAKA小坂臺階儀圓度和圓柱形測量機 EC1550H采用高精度旋轉精密設計，具有強調可操作性的圓柱形評估功能的臺式。全姿態檢測器。垂直軸運動的精度保證。EC1550HA???可以測量環槽波紋度。
  • 國內總代KOSAKA小坂臺階儀圓度和圓柱形測量機EC600它結構緊湊，適合生產現場，無需PC即可輕松操作和快速測量。心臟打開/傾斜調節支持功能使任何人都可以輕松操作大設置儀表和調整定心時自動放大倍率增加R軸和Z軸是電動的，R軸配備了自動停止功能。可連接通用電腦（可選）
  • EC5200小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層以及平板顯示等。
  • EC3600A小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層以及平板顯示等。
  • EC3600B小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層以及平板顯示等。
  • EC3600A小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層以及平板顯示等。
  • EC3300P小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層以及平板顯示等。
  • EC1850P小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層以及平板顯示等。
  • EC2700HFF小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層以及平板顯示等。
  • EC2500HF小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層以及平板顯示等。
  • EC2700H小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層以及平板顯示等。
  • EC2500H小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層以及平板顯示等。
  • EC2150小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創立，日本**家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層以及平板顯示等。
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