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產品詳情
簡單介紹:
UDM-1200,超音波膜厚計,TEITSU帝通電子研究所.UDM-1200,超音波膜厚計,TEITSU帝通電子研究所 溫馨提示:該儀器操作簡便可單手操作,無需電源開關,使用時只需將探頭放置在被測體儀器上自動開機進行測量。如果您對我們的產品感興趣的話請聯系我們,可以了解更多厚度計的相關消息。
詳情介紹:
UDM-1200,超音波膜厚計,TEITSU帝通電子研究所
UDM-1200,超音波膜厚計,TEITSU帝通電子研究所
產品詳細介紹
UDM-1200超音波膜厚計
特征:
●各種平頂材料上厚度測量OK
變質硅系,硅系,聚氨酯系等成分形狀的東西,2成分系也去泡了東西的話全部平頂材料上厚度測量。
●接縫底的變形的影響
備份材料澎湃接縫深度變化的場合任何測量沒有影響。另外,傾斜狀接頭深度變化的場合,底部的傾斜15度的程度的話可以測量。
●口袋的類型,攜帶方便
本體重量僅有290克輕了現場作業的性富,到哪里都可以輕松的攜帶。
●備份材料種類的影響
沒有備份材料債券,斷路器一、平板狀備份材,圓棒狀備份材料等全部的條件測量可能。
●測量條件的設定簡單
麥克風口處理器內置操作觸摸按鍵,只需按下測量條件的設定簡單地能進行。
●選擇功能
任何價值,其設定值作為基準的差距可以顯示(DIF功能)。
規格以及性能:
表示方式
|
液晶數字方式
|
測量方法
|
脈沖反射方式(一探觸子法)
|
使用周波數
|
5MHz
|
表示位數
|
3位數
|
*小單位
|
0.1毫米
|
測量范圍
|
2.5~40毫米(平頂材料)
|
誤差范圍
|
±0.5毫米
|
音速調整范圍
|
500~9999 m / sec
|
表示次數
|
2次/ sec
|
照明燈具
|
EL背照燈方式
|
自動切割
|
測量中斷后,約5分鐘
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耦合標志
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表示部馬克表示
|
口―電池表示
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表示部馬克表示(BATT)
|
選擇功能
|
任意設定其設定值作為基準的差距的表示(DIF功能)
|
電源
|
DC1.5 V(單3堿干電池)一書
工作時間:約30小時以上
EL照明點燈時:約20時間以上
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使用溫度范圍
|
-10℃~+50℃
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外形尺寸
|
W66×H140×D28mm
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重量
|
約290克探針約50克
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