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OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統(tǒng)
紫外光源和光學材料的配光的裝置.。
·實現(xiàn)顛覆配光測定常識的測定時間10分鐘!
·1次測定可以捕捉到所有空間的照度!
·通過近場配光測定取得光線數(shù)據(jù)!
通過一臺紫外光源的配光測量,
是能廣泛地評價材料的光學特性的裝置.
特長:
與傳統(tǒng)方法相比,測量速度顯著縮短(大約10分鐘)。
一次測量,計算各種條件下的測量結果。
通過在暗箱內設置,不需要暗室設備。
能夠算出任意位置·距離的照度·光度(*短1mm~)。
測試項目:
亮度光線數(shù)據(jù)。
照度、光度和光域數(shù)據(jù)
用途:
用樹脂硬化光源。
UV-LED芯片、封裝、模塊。
光學材料,如鏡頭和反射器
仕様
測定例
ブラックライト用のUV-LEDライトの測定例です。
ニアフィールド配光の測定結果を解析することでデジタル値はもちろん、
3Dでの配光パターンを描畫し、配光特性を3次元的に確認することができます。
OTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7 series 600UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7 series 600UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7 series 600UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7 series 600UVOTSUKA大冢-紫外高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7 series 600UV
電子デバイスの樹脂硬化用に使うUV光源の測定例です。
測定結果から、斜に光源を配置して照射したときの放射照度分布を
後解析で取得できます。