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產品詳情
  • 產品名稱:OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE series

  • 產品型號:LE series.
  • 產品廠商:OTSUKA大塚電子
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簡單介紹:
LE series OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器 是能夠使LED的光學特性評價與生產線的控制信號同步,在線內高速進行的裝置。 LE-5400提供NG判定和等級分類等質量管理所必需的光學特性信息。OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE series
詳情介紹:
LE series
   OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器

是能夠使LED的光學特性評價與生產線的控制信號同步,在線內高速進行的裝置。
 LE-5400提供NG判定和等級分類等質量管理所必需的光學特性信息。

OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE series

特長
允許與生產線上的控制信號同步。
通過光纖實現自由測量系統。
支持*短2ms至2毫秒的光譜測量(LE-5400)。
測量、運算、評價的1個周期與以往產品相比半數以下的高速型也是系列產品。
※詳細情況請與我們聯系。15902189399


測量項目。
三刺激值(kX,kY,kZ)*(JIS Z 8724)。
色度坐標(u,v)(CIE 1960UCS)。
色度坐標(x,y)(JIS Z 8724)。
色度坐標(u‘,v’)(CIE 1976UCS)。
主波長(Dominant)和刺激純度(JIS Z 8701)。
相關色溫和Duv(JIS Z 8725)。
演色評分(Ra,R1-R15)(JIS Z 8726)。
峰值(λmax)的波長、高度、半寬。
**峰的波長和高度。
積分值(Summation)。
重心波長。
指定波長的高度。
比峰值波長短波長側、長波長側的積分值。
*亮度(kY)的值,在測量的LED和檢測部的光學系統中不同,
僅當對齊(距離、位置、方向)具有重現性時才有效


仕 様
型式 LE series
タイプ A B C D
演算波長範囲 380 ~ 960 nm 300 ~ 800 nm 330 ~ 1100 nm 350 ~ 930 nm
波長精度 *1 ±0.3 nm*2 ±0.3 nm*2 ±0.5 nm*2 ±0.3 nm*2
方式 グレーティングによる分光測光方式
分光器 F = 3, f = 135mm
グレーティング ブレーズドホログラフィック型
検出器 電子冷卻型CCDイメージセンサ
ファイバー *3 長さ約2 m, 口金直徑約12 mm
LEDとの距離:通常2 mm~8 mm程度(LEDの指向特性により異なる)
消費電力 *大100 VA
本體?重量 280(W)x 160(H)x 296(D)mm, 約10 kg

*1 波長校正用光源の既知の輝線における確認値です。
*2 JIS Z 8724準拠
*3 形狀、長さは変更可能です。

裝置構成



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