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產品詳情
  • 產品名稱:OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統QE-2000

  • 產品型號: QE-2000
  • 產品廠商:OTSUKA大塚電子
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簡單介紹:
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詳情介紹:
QE-2000
   OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統。

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特長
拘泥于高精度測量。
能夠瞬間測量**量子效率(**量子收獲率)。
可以去除再激發熒光發光。
采用積分半球單元,實現明亮的光學系統。
低迷光多通道分光檢測器可顯著減少紫外區域中的混光。


拘泥于簡單的操作。
使用專用軟件輕松操作。
試樣測量用單元的拆卸容易。
小巧。
通過使用分光器類型的激發光源可以選擇任意波長。
通過在軟件上指定激發波長的波長和步長值,可以進行自動測量。


拘泥于多功能。
適用于粉末、溶液、固體(薄膜)和薄膜試樣。
豐富的分析功能

 

測定項目
  • 量子効率(量子収率)測定
  • 勵起波長依存性測定
  • 発光スペクトル測定
  • PL勵起スペクトル測定
  • EEM(Excitation Emission Matrix)測定

 

用 途
  • LED、有機EL用蛍光體の量子効率(量子収率)測定
  • フィルム狀試料の透過蛍光?反射蛍光の量子効率(量子収率)測定
    - リモートフォスファー用蛍光體サンプルなど
  • 量子ドット、蛍光プローブ、生體分野、包接化合物等の蛍光測定
  • 色素増感型太陽電池の量子効率(量子収率)測定
  • 錯體化合物の測定

 

高精度な理由
1.積分半球による理想的な光學系

QE-2000は、積分半球を搭載しています。積分半球は、積分球(全球)に比べて下記のような特長があります

  • 非発光部分(ホルダーなど)を外部に出すことができるため自己吸 収を小さく抑えることが可能であり、理想的な光學系を実現できる
  • ミラーにより同一ポイントの照度が約2倍となり、感度よく測定がで きる
  • 試料測定用セルの脫著が容易であり、積分球內部を傷めるリスクが 少ない

 

2.再勵起蛍光補正機能により”真の物性値”を観測

再勵起蛍光発光を含んだ狀態では、材料そのものの物性の観測ではなく、裝置の特性を含んだ観測となり、真の物性値を求めることができません。QE-2000は、積分半球の利點を生かした再勵起蛍光補正により、簡便にそして精度の高い測定をおこなうことができます。

 

3.低迷光マルチチャンネル分光検出器により紫外域の迷光を低減

従來の検出器(ポリクロメータ)では、紫外領域の迷光が高く検出されたため、量子効率(量子収率)の測定に向いているとは言えませんでした。大塚電子では、迷光を除去する技術を開発し、この問題を解決しました。QE-2000に搭載しているマルチチャンネル分光検出器は當社従來品に比 べて迷光量約1/5を実現しており、紫外域においても精度の高い測定を可能としています。

仕様

QE-2000仕様

 

オプション
  • オートサンプラー
  • サンプルホルダ
    ①粉體測定用 SUS304製、石英カバーあり
    ②フィルム測定用 透過測定用サンプルホルダー

 

ソフトウェア

直観的にわかる、使い勝手のよい専用ソフトウェアです。試料測定用セルをセットするだけで、量子効率(量子収率)、勵起スペクトルなどを簡単に測定することができます。



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