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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
RETS series
OTSUKA大冢-單元間隙檢查設(shè)備
從反射型·透射型的液晶封入單元到彩色過濾空單元的廣泛對應(yīng)
OTSUKA大冢-單元間隙檢查設(shè)備RETS seriesOTSUKA大冢-單元間隙檢查設(shè)備RETS series
詳情介紹：
QE-2000QE-5000OTSUKA大冢-單元間隙檢查設(shè)備
從反射型·透射型的液晶封入單元到彩色過濾空單元的廣泛對應(yīng)
OTSUKA大冢-單元間隙檢查設(shè)備RETS seriesOTSUKA大冢-單元間隙檢查設(shè)備RETS seriesOTSUKA大冢-單元間隙檢查設(shè)備RETS seriesOTSUKA大冢-單元間隙檢查設(shè)備RETS seriesOTSUKA大冢-單元間隙檢查設(shè)備RETS series
特長
采用偏振光光系統(tǒng)和多通道分光檢測器。
從1mm尺寸的光學(xué)元件到第10代的大型基板，各種尺寸。
支持的設(shè)備列表。
通過**措施和粒子對策，應(yīng)對液晶線內(nèi)的檢查設(shè)備。
測量項(xiàng)目
填充單元間隙。
扭曲角*。
拉桿角*。
前傾角[TN，IPS，F(xiàn)FS，MVA]*。
空單元格間隙*。
修復(fù)(雙折射相位差)的波長分散*。
光學(xué)軸*。
橢圓值/方位角*。
三維折射率/Rth/β*。
光譜/色度*
測量主題
液晶單元。
-透明、半透明液晶單元(TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、鐵電)。
-反射液晶屏(TFT、TN、IPS、VA)。
光學(xué)材料。
-其他(相位差、橢圓、偏振片、液晶材料)
仕 様
| 型式 | RETS series |
| サンプルサイズ | 20mm×20mm ～ * |
| セルギャップ測定範(fàn)囲 | 0.1μm ～ 數(shù)10μm |
| セルギャップ繰り返し性 | ±0.005μm |
| 検出器 | マルチチャンネル分光光度計(jì) |
| 測定波長範(fàn)囲 | 400nm ～ 800nm |
|
光學(xué)系 透過用偏光子ユニット |
偏光光學(xué)系 消光比 10-5グラントムソンプリズム內(nèi)蔵 自動回転（角度精度0.1°）、自動脫著機(jī)構(gòu) |
| 測定スポット徑 | φ2, φ5, φ10 (mm) |
| 光軸傾斜機(jī)構(gòu) | -20 ～ 45°、-45 ～ 45°等 |
* 大型ガラス基板にも対応可能（2000mm×2000mm以上）
測定例
リタデーション（複屈折位相差）の波長分散とセルギャップ値
ギャップ面內(nèi)分布データ
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