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產品詳情
簡單介紹：
FE-3700
OTSUKA大冢-膜厚測量系統
OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700
詳情介紹：
FE-3700
OTSUKA大冢-膜厚測量系統
OTSUKA大冢-膜厚測量系統
特 長：
可以快速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學常數.。為大型玻璃基板(包括下一代尺寸)和LCD、TFT和有機EL提供支持。
OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700OTSUKA大冢-膜厚測量系統FE-3700
用 途
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LCD
ITO/Glass、PI/OC/Glass、CF/Glass、Resist/Glass -
TFT
SiN/a-Si/Glass -
有機EL
有機EL/ITO/Glass -
PDP
誘電體層/Glass
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