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  • 產品名稱:多檢體納米粒徑量測系統NANOSAQLA

  • 產品型號:多檢體NANO粒徑測量系統
  • 產品廠商:OTSUKA大塚電子
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簡單介紹:
多檢體納米粒徑量測系統NANOSAQLA 界達電位ELSZ 多檢體NANO粒徑測量系統 多檢體納米粒徑量測系統NANOSAQLA
詳情介紹:

特點

只需一臺,輕松實現5檢體連續測量
低濃度到高濃度都可對應
高速測量,標準時間1分鐘
搭載了簡單的測量功能 (1鍵測量)
內置非浸泡型的cell block,無分注夾雜物
搭載溫度梯度功能

多檢體納米粒徑量測系統nanoSAQLa

測量范圍(理論值)

粒徑 0.6nm~10μm
濃度范圍 0.00001~40%
溫度范圍 0~90℃*


仕樣

型號 多檢體NANO粒徑測量系統
測量原理 動態光散射法
光源 高出力半導體激光*1
檢出器 高感光度APD
連續測量 5檢體
測量范圍 0.6nm ~ 10μm
對應濃度 0.00001 ~ 40% *2
溫度 0 ~ 90℃ (有溫度梯度功能) *3
規格 遵照 ISO 22412:2017
遵照JIS Z 8828:2013
遵照JIS Z 8826:2005
尺寸 W240 X D480 X H375 mm
重量 約18 kg
軟件 平均粒徑解析 (累積法解析)
粒度分布解析
(Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法)
粒度分布疊寫
逆相關函數?殘差plot
粒徑monitor
粒徑顯示范圍 (0.1 ~ 106 nm)
分子量計算功能


*1 根據激光**基準 (JIS C6802)級別區分,本儀器的**級別為1級。
*2 Latex120nm:0.00001 ~ 10%、牛黃膽酸:~40%
*3 標準glass cell的批量測量的情況。
一次性cell或連續測量時, 15 ~ 40℃ (不對應溫度梯度)

測量范例

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