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全光束測量系統 HM/FM SERIES
測量從LED到照明器具的各種光源的總光通量。
? 積分球+光譜儀,可處理從總光通量到顏色測量的廣泛范圍
? 光源的加熱/冷卻控制使溫度特性評估成為可能
? 直流交流電源系統一齊控制。避免操作麻煩
? 整體半球測量精度高,樣品設置簡單
還支持瓦特級別高功率激光光源的測量
長年的豐富經驗,保證了各種光通量測量場景的對應,根據需要設置測量系統
產品信息
特點
? 可處理高達2400mm的直管光學總光通量測量
? 測量系統符合IESNA的LM-79和LM-80標準
? 采用新的探測器,可以進行廣動態范圍的測量
? 測量部分的尺寸(積分球或積分半球)從φ250毫米到φ3000毫米都能對應
? 支持LIV測量,脈沖點測量,樣品溫度測量
? 兼容脈沖寬度調制(PWM)調光
對應總光通量測量的所有要求
全光束測量系統總括
評價項目
? 總光通量[JISC7801:2009/JISC8152:2007]
? 光譜總輻射通量(光譜)
? 顏色匹配標準差(SDCM)
? 色度坐標(U,V)[CIE1960UCS]
? 色度坐標(X,Y)[JISZ8724:1997]
? 色度坐標(U'V')[CIE1976UCS]
? 相關色溫與Duv[JISZ8725:1999]
? 主波長(Dominant)和激發純度(Purity)[JISZ8701:1999]
? 顯色評價數(RA,R1?R15)[JISZ8726:1990]
仕 様
HM系列
特點
? 可以改變光源的照明方向,因此可在實際使用條件下進行測量
? 排除積分空間以外的發光部件,消除吸收誤差
? 積分空間的一半亮度(靈敏度)為兩倍
? 適用于表面發射光源的總光通量測量
? 樣品溫度調節方便,因為除了發光表面外,它可以放置在整體半球外面
(也對應高功率光源)
? 可消除樣品光源本身陰影的影響,是測量大樣品的理想選擇
(可對應積分球直徑的1/3)
系統構成圖
各種各樣的積分半球
HM系列
特點
? 與整體半球形規格一樣,可以測量2400mm的直管光源
? 使用帶輔助燈泡的積分球,可補正自我吸收
系統配置圖
全光束測量系統 HM/FM SERIES
測量從LED到照明器具的各種光源的總光通量。
? 積分球+光譜儀,可處理從總光通量到顏色測量的廣泛范圍
? 光源的加熱/冷卻控制使溫度特性評估成為可能
? 直流交流電源系統一齊控制。避免操作麻煩
? 整體半球測量精度高,樣品設置簡單
還支持瓦特級別高功率激光光源的測量
長年的豐富經驗,保證了各種光通量測量場景的對應,根據需要設置測量系統
產品信息
特點
? 可處理高達2400mm的直管光學總光通量測量
? 測量系統符合IESNA的LM-79和LM-80標準
? 采用新的探測器,可以進行廣動態范圍的測量
? 測量部分的尺寸(積分球或積分半球)從φ250毫米到φ3000毫米都能對應
? 支持LIV測量,脈沖點測量,樣品溫度測量
? 兼容脈沖寬度調制(PWM)調光
對應總光通量測量的所有要求
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評價項目
? 總光通量[JISC7801:2009/JISC8152:2007]
? 光譜總輻射通量(光譜)
? 顏色匹配標準差(SDCM)
? 色度坐標(U,V)[CIE1960UCS]
? 色度坐標(X,Y)[JISZ8724:1997]
? 色度坐標(U'V')[CIE1976UCS]
? 相關色溫與Duv[JISZ8725:1999]
? 主波長(Dominant)和激發純度(Purity)[JISZ8701:1999]
? 顯色評價數(RA,R1?R15)[JISZ8726:1990]
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HM系列
特點
? 可以改變光源的照明方向,因此可在實際使用條件下進行測量
? 排除積分空間以外的發光部件,消除吸收誤差
? 積分空間的一半亮度(靈敏度)為兩倍
? 適用于表面發射光源的總光通量測量
? 樣品溫度調節方便,因為除了發光表面外,它可以放置在整體半球外面
(也對應高功率光源)
? 可消除樣品光源本身陰影的影響,是測量大樣品的理想選擇
(可對應積分球直徑的1/3)
系統構成圖
各種各樣的積分半球
HM系列
特點
? 與整體半球形規格一樣,可以測量2400mm的直管光源
? 使用帶輔助燈泡的積分球,可補正自我吸收
系統配置圖