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產品詳情

  • 產品名稱：日本大冢低相位差高速檢查設備

  • 產品型號：RE-200
  • 產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：
日本大冢低相位差高速檢查設備RE-200 日本大冢低相位差高速檢查設備RE-200 日本大冢低相位差高速檢查設備RE-200
詳情介紹：

低相位差高速檢查設備　RE-200

低相位差高速檢查設備 RE-200光軸的高精度管理！ 3σ≦0.02°
低相位差測量

 

 

 

 

 

 

 

 

產品信息

特 點

? 可測從0nm開始的低（殘留）相位差
? 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)
（相當于世界*快速的0.1秒以下來處理）
? 無驅動部，重復再現性高
? 設置的測量項目少，測量簡單
? 測量波長除了550nm以外，還有各種波長
? Rth測量、全方位角測量
（需要option的自動旋轉傾斜治具
? 通過與拉伸試驗機組合，可同時評價膜的偏光特性和光弾性
 (本系統屬特注。）

測量項目

? 相位差（ρ[deg.], Re[nm]）
? 主軸方位角（θ[deg.]）
? 橢圓率（ε）?方位角（γ）
? 三次元折射率（NxNyNz）

用　途

? 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
? 樹脂、玻璃等透明、非均質材料（玻璃有變形，歪曲等）

原　理

? 什么是RE-200
? RE-200是光子結晶素子（偏光素子）、CCD相機構成的偏光計測模塊和透過的偏光光學系相組合，可高速且高精度的測量位相差（相位差）、及主軸方位角。CCD相機1次快門獲取偏光強度模式，沒有偏光子旋轉的機構，系統整體上是屬于小型構造，長時間使用也能維持穩定的性能。

仕　樣

型號

RE series

樣品尺寸

*小10×10mm ～*大100×100mm

測量波長

550nm （標準仕樣）※1

相位差測量范圍

約0nm ～約1μm

軸檢出重復精度

0.05°（at 3σ） ※2

檢出器

偏光計測模塊

測量光斑直徑

2.2mm×2.2mm

光源

100W 鹵素燈或 LED光源

本體?重量

300(W) × 560(H) ×430（D) mm 、約20kg

 Option
? Rth測量、全方位角測量※治具本體（旋轉：180°, 傾斜：±50°）

? 動旋轉傾斜治具

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香港玉崎有限公司
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郵箱：suz@tamasaki.com
網址：http://www.ktts.net
營業部：黃羅龍

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