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產品詳情
簡單介紹：
它是一種緊湊且價格低廉的膜厚計，可通過高精度光學干涉儀以簡單的操作實現膜厚測量。
我們采用了一體式的機殼，在主機中容納了必要的設備，從而實現了穩定的數據采集。
通過以低價獲得優良反射率可以分析光學常數。
詳情介紹：
特殊長度
- 支持從薄膜到厚膜的各種膜厚
- 使用反射光譜進行膜厚分析
- 緊湊且價格低廉，實現了非接觸，無破壞的高精度測量
- 簡便的條件設置和測量操作！任何人都可以輕松測量薄膜厚度
- 通過峰谷法，頻率分析法，非線性*小二乘法，優化方法等，可以進行各種各樣的膜厚測量。
- 通過非線性*小二乘薄膜厚度分析算法可以進行光學常數分析（n：折射率，k：消光計數）。
測量項目
- 優良反射率測量
- 膜厚分析（10層）
- 光學常數分析（n：折射率，k：消光計數）
測量目標
-
功能膜，塑料
透明導電膜（ITO，銀納米線），相位差膜，偏光膜，AR膜，PET，PEN，TAC，PP，PC，PE，PVA，膠粘劑，膠粘劑，保護膜，硬涂層，抗指紋， 等等。 -
半導體
化合物半導體，硅，氧化膜，氮化膜，抗蝕劑，SiC，GaAs，GaN，InP，InGaAs，SOI，藍寶石等。 -
表面處理
DLC涂層，防銹劑，防霧劑等 -
光學材料
濾鏡，增透膜等 -
FPD
LCD（CF，ITO，LC，PI），OLED（有機膜，密封劑）等 -
其他
硬盤，磁帶，建筑材料等
- 產品信息
- 原則
- 規格
- 設備配置
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