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  • 產品名稱:線掃描膜厚儀[離線型]

  • 產品型號:
  • 產品廠商:OTSUKA大塚電子
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簡單介紹:
該設備可以輕松地離線檢查面內膜厚不均,以進行膜的研發和質量控制的抽樣檢查。 可以高速且高精度地測量整個表面。
詳情介紹:
特殊長度
  • 可以檢查薄膜的面內薄膜厚度不均等
  • 可以高速,高精度地測量整個表面
  • 只能由專門從事膜厚測量的制造商提供的**支持
  • 通過分光光度法進行高精度的膜厚測定
  • 硬件和軟件的原始設計

 

線掃描圖像
即時分析300毫米見方的光譜數據,以進行**的不均勻檢查和膜厚測量

 

電影
 
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