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  • 產品名稱：膜厚監測儀 FE-300 Otsuka大冢蘇州售

  • 產品型號：
  • 產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：
它是一種緊湊、低成本的薄膜厚度計，它通過簡單的操作實現了高精度光學干涉測量的薄膜厚度測量。 我們采用一體式外殼，將必要的設備安裝在主體中，實現了穩定的數據采集。 通過以低廉的價格獲得**反射率，可以分析光學常數。
詳情介紹：
  • 支持從薄膜到厚膜的各種薄膜厚度
  • 使用反射光譜分析薄膜厚度
  • 實現非接觸、非破壞的高精度測量，同時體積小、價格低
  • 簡單的條件設置和測量操作！任何人都可以輕松測量薄膜厚度
  • 通過峰谷法、頻率分析法、非線性*小二乘法、優化法等，可以進行多種膜厚測量。
  • 非線性*小二乘法薄膜厚度分析算法可以進行光學常數分析（n：折射率，k：消光計數）。
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