布基纳法索/澳洲时间/欧冠赛程16强赛程表/西甲历届积分榜 - 2024年土伦杯赛事规则

產品中心
產品詳情

  • 產品名稱：光譜橢偏儀 FE-5000 / 5000S Otsuka大冢

  • 產品型號：
  • 產品廠商：OTSUKA大塚電子
  • 產品價格：0
  • 折扣價格：0
  • 產品文檔：
你添加了1件商品 查看購物車
簡單介紹：
除了可實現高精度薄膜分析的光譜橢偏儀外，我們還通過實施自動可變測量機制支持所有類型的薄膜。除了傳統的旋轉光子檢測器方法外，還通過為延遲板提供自動安裝/拆卸機制來提高測量精度。
詳情介紹：
  • 橢偏參數可以在紫外-可見光 (300-800 nm) 波長范圍內測量。
  • 納米級多層薄膜厚度分析成為可能
  • 可以通過 400 個或更多通道的多通道光譜快速測量橢圓偏光
  • 支持通過可變反射角測量對薄膜進行詳細分析
  • 通過創建光學常數數據庫和添加配方注冊功能提高了可操作性。
產品留言
標題
聯系人
聯系電話
內容
驗證碼
點擊換一張
注：1.可以使用快捷鍵Alt+S或Ctrl+Enter發送信息!
2.如有必要,請您留下您的詳細聯系方式!

蘇公網安備 32050502000409號