布基纳法索/澳洲时间/欧冠赛程16强赛程表/西甲历届积分榜 - 2024年土伦杯赛事规则

產品中心
產品詳情

  • 產品名稱：超快光譜干涉式測厚儀Otsuka大冢

  • 產品型號：
  • 產品廠商：OTSUKA大塚電子
  • 產品價格：0
  • 折扣價格：0
  • 產品文檔：
你添加了1件商品 查看購物車
簡單介紹：
它以非接觸方式測量晶片等的研磨和拋光過程，具有超高速、實時和高精度的晶片和樹脂。
詳情介紹：
  • 可進行非接觸式、非破壞性厚度測量
  • 折反射系統（可以從一側接觸測量）
  • 高速（*大速度 5kHz）和實時評估成為可能
  • 實現高穩定性（重復精度 0.01% 以下）
  • 抗粗糙性強
  • 可以處理任何距離
  • 支持多層結構（*多5層）
  • 內置NG數據排除功能
  • 可進行距離（形狀）測量（內置傳感器選件
產品留言
標題
聯系人
聯系電話
內容
驗證碼
點擊換一張
注：1.可以使用快捷鍵Alt+S或Ctrl+Enter發送信息!
2.如有必要,請您留下您的詳細聯系方式!

蘇公網安備 32050502000409號