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產品詳情
簡單介紹：
是一種可以方便地離線檢測面內膜厚不均勻性的設備，用于膜的研發和質量控制的抽檢。
可以高速且高精度地測量整個表面。
詳情介紹：
- 可檢測薄膜等面內膜厚不均
- 可以高速高精度地測量整個表面
- 只有專門從事膜厚測量的制造商才能提供的**支持
- 通過光譜測量進行高精度膜厚測量
- 硬件和軟件的原創設計
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