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  • 產品名稱：量子效率測量系統 QE-2000 / 2100 Otsuka大冢

  • 產品型號：
  • 產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：
可以立即測量優良量子效率（優良量子產率）。與粉末、溶液、固體（薄膜）和薄膜樣品兼容。低雜散光多通道光譜檢測器大大減少了紫外區的雜散光。此外，通過采用積分半球單元，可以實現明亮的光學系統，并通過利用這一點重新激發熒光校正，可以進行高精度的測量。此外，QE-2100 能夠測量量子效率的溫度依賴性，并支持從紫外到近紅外的寬波長范圍。
詳情介紹：
  • 可即時測量優良量子效率（優良量子產率）
  • 可去除再激發熒光發射
  • 采用積分半球單元，實現明亮的光學系統。
  • 低雜散光多通道光譜檢測器大大減少了紫外區的雜散光
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