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  • 產品名稱:膜厚測量系統 FE-3700 / 5700 Otsuka大冢

  • 產品型號:
  • 產品廠商:OTSUKA大塚電子
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簡單介紹:
評估和分析不斷發展的 FPD 制造過程中的各種薄膜
詳情介紹:
可以高速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學常數。除了支持包括下一代尺寸在內的大型玻璃基板外,它還支持 LCD、TFT 和有機 EL。
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