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紫外可見光光度計
規(guī)格
模型 | 飽和度測量裝置 RETS-100nx |
測量項(xiàng)目(薄膜、光學(xué)材料) | Ritalization(波長色散)、慢相軸、Rth * 1、3D 折射率* 1等 |
測量項(xiàng)目(偏光板) | 吸收軸、偏振度、消光比、各種色度、各種透過率等。 |
測量項(xiàng)目(液晶單元) | 單元間隙、預(yù)傾角*1、扭曲角、配光角等 |
活化測量范圍 | 0-60,000nm |
重復(fù)性 | 3σ≤0.08nm(晶體波片約600nm) |
單元間隙測量范圍 | 0 至 600 μm(當(dāng) Δn = 0.1 時) |
單元間隙重復(fù)性 | 3σ ≤ 0.005 μm(當(dāng)單元間隙約為 3 μm 且 Δn = 0.1 時) |
軸檢測重復(fù)性 | 3σ≤0.08°(晶體波片約600nm) |
測量波長范圍 | 400-800nm(可提供其他選擇) |
探測器 | 多通道光譜儀 |
測量直徑 | φ2mm(標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格) |
光源 | 100W鹵素?zé)?/span> |
數(shù)據(jù)處理部 | 個人電腦、顯示器 |
舞臺尺寸:標(biāo)準(zhǔn) | 100mm x 100mm(固定載物臺) |
選項(xiàng) |
?超高延遲測量 ?多層測量 ?軸角校正功能 ?自動XY臺 ?自動傾斜旋轉(zhuǎn)臺 |
* 1 需要自動傾斜旋轉(zhuǎn)平臺(可選)
■ 高精度
■ 寬測量范圍(保留范圍:0 至 60000 nm)
■ 了解延遲波長色散形狀
■ 高延遲
■ 更換樣品10次,比較有無角度校正的結(jié)果
產(chǎn)品信息
通過多波長測量實(shí)現(xiàn)高精度
<高精度的原因> -使用獨(dú)特
的高性能多通道光譜儀-
由于 可以獲得大量的透射率信息,因此可以進(jìn)行高精度測量
(獲得的透射率)。約500個波長,是其他公司產(chǎn)品的約50倍)
【樣品:相位差膜R85】
光學(xué)系統(tǒng)
2.如有必要,請您留下您的詳細(xì)聯(lián)系方式!