布基纳法索/澳洲时间/欧冠赛程16强赛程表/西甲历届积分榜 - 2024年土伦杯赛事规则

產品中心
所在位置: 首頁> 產品目錄> Otsuka大冢>
產品詳情
  • 產品名稱:塔瑪薩崎Otsuka大塚電位儀

  • 產品型號:澤塔電位測量系統 ELSZ-2000Z
  • 產品廠商:OTSUKA大塚電子
  • 產品價格:0
  • 折扣價格:0
  • 產品文檔:
你添加了1件商品 查看購物車
簡單介紹:
該裝置可用于用稀釋溶液到濃縮溶液測量Zeta電位。 測量電滲透流,使用*小容量為 130μL 的一次性電池進行測量,可實現高精度 Zeta 電位測量。 此外,在0~90°C的寬溫度范圍內,可以進行自動溫度梯度測量的改性和相變溫度分析。
詳情介紹:
特點
  • *新的高靈敏度 APD 可提高靈敏度并縮短測量時間
  • 通過自動溫度梯度測量進行變性/相變溫度分析
  • 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內進行測量
  • 支持懸浮高濃度樣品的Zeta電位測量
  • 通過測量和繪圖分析,提供高精度的 Zeta 電位測量結果,用于測量單元中的電滲透流
  • 支持高鹽濃度溶液的Zeta電位測量
  • 支持小面積樣品的平板Zeta電位測量

 

用途

它非常適合在界面化學、無機材料、半導體、聚合物、生物、制藥和醫學領域進行基礎和應用研究,不僅處理細顆粒,還處理薄膜和平板樣品的表面科學。

  • 新型功能材料
    燃料電池相關(碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬)
    生物納米相關(納米膠囊、樹突、DDS、生物納米顆粒)、納米氣泡等

     
  • 陶瓷和著色材料工業
    陶瓷(二氧化硅、氧化鋁、氧化鈦等)
    無機溶膠的表面改性、分散和聚合控制
    顏料(炭黑和有機顏料)的分散和聚合控制
    漿料樣品
    彩色濾光片
    懸浮礦物的收集材料吸附研究

     
  • 半導體領域
    硅晶片表面異物附著的機理 闡明
    研磨劑、添加劑與晶圓表面相互作用的研究
    CMP漿料

     
  • 聚合物和化學工業
    乳液(涂料和粘合劑)的分散和聚合控制、乳膠表面改性(醫藥和工業)
    聚合物電解質(聚苯乙烯磺酸鹽、聚羧酸等)的功能研究、功能性納米顆粒
    造紙和紙漿造紙工藝控制以及紙漿添加劑研究

     
  • 制藥和食品工業
    乳液(食品、香料、醫療和化妝品)的分散和聚集控制、蛋白質功能

  • 脂質體和囊泡的分散和聚合控制、表面活性劑(云蘇)的功能


規格


測量原理 電泳光散射法(激光多普勒法)
光學 異質光學
光源 大功率半導體激光器
探測器 高靈敏度 APD
單元格 標準單元、微量分配單元或濃縮單元
溫度 0 至 90°C(帶梯度功能)
電源 100V ± 10% 250VA
尺寸 (WDH) 380(W)×600(D)×210(H)
重量 22 kg

 

測量項目
澤塔電位 -200 ~ +200 mV
電流動性 -2×10 -5 ~ 2×10 -5 cm2/V.s

測量范圍

測量溫度范圍 0 ~ 90℃
測量濃度范圍 澤塔電位:0.001%~40%

*1(Latex112nm:0.00001 至 10%,?;撬幔簙40%)


產品留言
標題
聯系人
聯系電話
內容
驗證碼
點擊換一張
注:1.可以使用快捷鍵Alt+S或Ctrl+Enter發送信息!
2.如有必要,請您留下您的詳細聯系方式!

蘇公網安備 32050502000409號