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產品詳情

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產品名稱：江蘇地區代理Otsuka大塚VR測試儀RE-200
產品型號：
產品廠商：OTSUKA大塚電子
產品價格：0
折扣價格：0
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簡單介紹：

Otsuka大塚VR測試儀RE-200 偏光片RTH AR測試儀大塚電子RETS

詳情介紹：

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理、直營各日本品牌工業產品，聯系人：張小姐

聯系電話：15902189399

產品信息

特點

低（殘余）延遲測量從0nm
在光軸檢測的同時，可以高速測量延遲（Re.）（世界上
*快的處理速度在0.1秒以下）
由于沒有驅動單元，因此可實現高重復性
設置的測量項目更少，測量更簡單
測量波長為550nm，以及各種波長
Rth 測量，全
向角度測量（需要可選的自動旋轉傾斜夾具）
與拉伸測試儀結合使用時，可以在
薄膜的偏振特性的同時進行光彈性評估（該系統是定制的）。）

測量項目

延遲（ρ[deg.]， Re[nm]）
主軸方位角（θ[deg.]）
橢圓比（ε）、方位角（γ）
三維折射率（NxNyNz）

測量對象

緩速膜、偏振膜、橢圓膜、視角改善膜、各種功能膜
透明、各向異性（玻璃應變、應變等）

什么是 RE-200？

RE-200 將由光子晶體元件（偏振元件）和 CCD 攝像機組成的偏振測量模塊與透射偏振光學系統相結合，可實現快速、高精度的相位差（延遲）和主軸方位角測量。由于偏振強度模式是在 CCD 攝像機的一次拍攝中獲得的，因此沒有偏振器旋轉機制，整個系統配置緊湊，即使在長時間使用時也能保持穩定的性能。

擬合傅立葉變換以計算橢圓率ε方位角γ。

手勢

類型表達式	RE series
樣本大小	小 10×10mm 至大 100×100mm
測量波長	550nm （標準規格）*1
延遲測量范圍	約0nm~約1μm
軸檢測重復精度	0.05°（at 3σ） ※2
探測器	偏振測量模塊
測量點直徑	2.2mm×2.2mm
光源	100W 鹵素燈或 LED 光源
主體和重量	300 （W） × 560 （H） ×430 （D）毫米，約 20 kg