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    • 產(chǎn)品詳情

    • 產(chǎn)品名稱：代理Otsuka大塚電子橢圓偏振光測量儀FE-300

    • 產(chǎn)品型號：
    • 產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
    • 產(chǎn)品價格：0
    • 折扣價格：0
    • 產(chǎn)品文檔：
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    簡單介紹：
    代理Otsuka大塚電子橢圓偏振光測量儀FE-300 多功能橢偏儀 橢偏儀系統(tǒng) 橢圓偏振光測量儀
    詳情介紹：

    產(chǎn)品信息

    特點
    • 支持從薄膜到厚膜的廣泛薄膜厚度
    • 使用反射光譜進(jìn)行薄膜厚度分析
    • 緊湊、低成本、非接觸式、無損、高精度測量
    • 易于設(shè)置條件和測量操作！ 任何人都可以輕松測量薄膜厚度
    • 通過峰值巴雷法、頻率分析法、非線性*小二乘法、優(yōu)化法等多種膜厚度測量
    • 非線性*小二乘法的厚度分析算法允許光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率、k：消光計數(shù)）

     

    測量項目
    • **反射率測量
    • 薄膜厚度分析（10層）
    • 光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光計數(shù)）

     

    測量對象
    • 功能膜、塑料
      透明導(dǎo)電膜（ITO、銀納米線）、緩速膜、偏振膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、粘合劑、粘合劑、保護(hù)膜、硬涂層、防指紋劑等。
    • 半導(dǎo)體
      化合物半導(dǎo)體、Si、氧化膜、氮化膜、Resist、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、SOI、Sapphire 等。
    • 表面處理
      DLC 涂層、防銹劑、防霧劑等
    • 光學(xué)材料
      過濾器、AR 涂層等
    • FPD
      LCD（CF、ITO、LC、PI）、OLED（有機(jī)膜、密封劑）等
    • 其他
      硬盤、磁帶、建筑材料等

     

    原則

    測量原理

    Otsuka 電子采用光干涉法和內(nèi)部制造的高精度分光光度計，可實現(xiàn)非接觸式、無損和高速高精度薄膜厚度測量。 光干涉法是一種利用光學(xué)系統(tǒng)獲得的反射率來確定光學(xué)厚度的方法，如圖2所示。該光學(xué)系統(tǒng)使用光譜光度計獲得光學(xué)厚度。 以涂覆在金屬基板上的膜為例，從目標(biāo)樣品上方入射的光在膜表面反射（R1）。 此外，通過薄膜（R2）的光在基板（金屬）或膜界面反射。 測量由光路差引起的相位偏移引起的光干涉現(xiàn)象，并從獲得的反射光譜和折射率計算薄膜厚度的方法稱為光干涉法。 有四種分析方法：峰巴雷法、頻率分析法、非線性*小二乘法和優(yōu)化法。

    薄膜厚度測量原理圖


    規(guī)格

    手勢
    測量波長范圍 300～800nm
    測量膜厚度范圍
    （SiO    2轉(zhuǎn)換）     		3nm～35μm
    點直徑 φ1.2mm
    樣本大小 φ200×5(H)mm
    測量時間 0.1~10s以內(nèi)
    電源 AC100V±10% 300VA
    尺寸、重量 280（W)×570（D)×350（H）mm、24kg
    其他 參考板，食譜創(chuàng)建服務(wù)

     

     

    軟件屏幕


    塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理、直營各日本品牌工業(yè)產(chǎn)品，聯(lián)系人：張小姐

    聯(lián)系電話：15902189399  

    江蘇地區(qū)代理Otsuka大塚電子橢圓偏振光測量儀FE-300


    上海地區(qū)代理Otsuka大塚電子橢圓偏振光測量儀FE-300

    浙江地區(qū)代理Otsuka大塚電子橢圓偏振光測量儀FE-300



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