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產品詳情

  • 產品名稱：OTSUKA大塚 膜厚監測儀FE-300

  • 產品型號：
  • 產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測量系統 ELSZneo OTSUKA大塚 膜厚監測儀FE-300
詳情介紹：


產品信息

特征
  • 兼容從薄膜到厚膜的各種薄膜厚度
  • 使用反射光譜分析薄膜厚度
  • 緊湊、低成本、非接觸式、無損和高精度測量
  • 易于設置條件和測量操作！ 任何人都可以輕松測量薄膜厚度
  • 峰谷法、頻率分析法、非線性*小二乘法、優化法等可實現多種薄膜厚度測量
  • 非線性*小二乘膜厚分析算法可實現光學常數分析（n：折射率，k：衰減計數）

 

測量項目
  • **反射率測量
  • 薄膜厚度分析（10層）
  • 光學常數分析（n：折射率，k：衰減計數）

 

測量對象
  • 功能膜、塑料：
    透明導電膜（ITO、銀納米線）、阻滯膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、膠粘劑、膠粘劑、保護膜、硬涂層、防指紋劑等。
  • 半導體 化合物半導體
    、硅、氧化膜、氮化物膜、抗蝕劑、碳化硅、砷化鎵、氮化鎵、鎵、藍寶石等
  • 表面處理
    DLC涂層、防銹劑、防霧劑等
  • 光學材料
    濾光片、增透膜等
  • FPD
    液晶顯示器（CF，ITO，LC，PI），OLED（有機膜，密封膠）等。
  • 其他
    硬盤、磁帶、建筑材料等




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