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產(chǎn)品中心
產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱：小坂KOSAKA表面粗度輪廓形狀測定儀SEF580A-M50

  • 產(chǎn)品型號： SEF580A-M50
  • 產(chǎn)品廠商：KOSAKA小坂臺階儀
  • 產(chǎn)品價格：0
  • 折扣價格：0
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡單介紹：
KOSAKA小坂小坂研究所（KOSAKA）是于1950年創(chuàng)立，日本**家發(fā)表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系統(tǒng)為多種不同表面提供**的形貌分析，有半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學器件、薄膜/化學涂層以及平板顯示等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實現(xiàn)高精度表面形貌分析應用
詳情介紹：


KOSAKA小坂

SEF580A-M50

可以進行“表面粗糙度”和“輪廓形狀”的兩種測量。 觸摸面板的使用提供了出色的可操作性，例如“切換測量條件”，并且可以快速響應各種工件的測量。

  • 表面粗糙度測量
    • 可以在一次測量中分析具有不同標準的參數(shù)，并且可以順利過渡到新標準。
  • 輪廓形狀測量
    • X軸上的*大測量采樣點數(shù)高達64，000，可實現(xiàn)高分辨率的長距離測量。

SEF580A-M50表面粗糙度

測量范圍/分辨率 Z軸：600微米/0.08納米
進給速度 0.02~10毫米/秒
唱針 R2μm  0.75mN以下

輪廓形狀

測量精度 Z：±0.25%（我們的標準）X：±（1+0.02L）μm或更小
L：測量長度（毫米）
測量范圍 Z軸：50毫米 X：100毫米
唱針 R25μm 10~30mN


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