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產(chǎn)品詳情
簡單介紹:
MITAKA三鷹光器微透鏡陣列(MLA)
形狀光學(xué)表征設(shè)備
它配備了NH系列的所有基本形狀測量功能,可以測量透鏡和模具的橫截面形狀,并用專用軟件集體測量曲率和中心坐標(biāo)。
詳情介紹:
MITAKA三鷹光器長處
通過高精度圖像處理可以評估鏡頭的光學(xué)特性
評估項目 : 有效焦距 / 后焦 / 透射率 / 焦距 / 焦距 / 焦深 / MTF
同時測量多個微透鏡陣列 (MLA)
使用如下所示的測量光學(xué)系統(tǒng)用顯微鏡鏡頭放大平行光的集中圖像(針孔狹縫圖像),并由CCD相機(jī)捕獲圖像。 通過對圖像進(jìn)行圖像處理來評估鏡頭的光學(xué)特性。
矩陣創(chuàng)建軟件
專用矩陣測量軟件可記憶陣列模式,實現(xiàn)平滑的自動測量。
它是MLA研發(fā)和質(zhì)量控制的理想選擇,這些研發(fā)和質(zhì)量控制變得越來越大。
它是MLA研發(fā)和質(zhì)量控制的理想選擇,這些研發(fā)和質(zhì)量控制變得越來越大。
MITAKA三鷹光器諾馬斯基微分干涉觀測
NH的顯微鏡部分可以配備諾馬斯基微分干涉光學(xué)元件。
該光學(xué)系統(tǒng)可直觀地捕獲普通明場光學(xué)系統(tǒng)無法觀察到的數(shù)十?的表面粗糙度和劃痕,并可以使用激光探頭在現(xiàn)場進(jìn)行定量粗糙度和階梯測量。
該光學(xué)系統(tǒng)可直觀地捕獲普通明場光學(xué)系統(tǒng)無法觀察到的數(shù)十?的表面粗糙度和劃痕,并可以使用激光探頭在現(xiàn)場進(jìn)行定量粗糙度和階梯測量。
測量功能
使用激光探頭測量透鏡形狀測量
?曲率半徑、中心坐標(biāo)值
、圓度、頂點高度、XY坐標(biāo)、橫截面
、3D形狀測量、各透鏡表面的表面粗糙度
測量
、圓度、頂點高度、XY坐標(biāo)、橫截面
、3D形狀測量、各透鏡表面的表面粗糙度
測量
光學(xué)表征通過圖像處理測量
?有效焦距、后焦、有效MLA焦距、各鏡頭的集光位置
、錯位、各鏡頭的對焦光斑尺寸
、透射率
、焦
平面上的圖像形成評估(彗差、畸變等)、
景深(可選)
?MTF測量(可選)
、錯位、各鏡頭的對焦光斑尺寸
、透射率
、焦
平面上的圖像形成評估(彗差、畸變等)、
景深(可選)
?MTF測量(可選)
MITAKA三鷹光器規(guī)范
運(yùn)動范圍(X、Y、Z、AF)
100, 100, 100, 10毫米
X-Y 軸刻度分辨率
0.1微米
自動對焦軸刻度分辨率
0.01微米
測量原理
點自動對焦方法 ISO 25178-605
激光
λ = 635nm 輸出,1mW 或更低
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