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代理日本品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等)、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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產(chǎn)品詳情
簡單介紹:
Auto SE - 自動化薄膜測量工具國內(nèi)總代Auto SE是一種新型薄膜測量工具。僅需簡單的幾個按鈕,幾秒鐘內(nèi)即可自動完成樣品測量和分析,并提供完整的薄膜特性分析報告,包括薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、表面粗糙度和薄膜的不均勻性、反射率或透過率。
詳情介紹:
Auto SE - 自動化薄膜測量工具國內(nèi)總代
- 光譜范圍:440-1000nm
- 光斑尺寸:7個尺寸微光斑全自動切換500x500 μm; 250x500 μm; 250x250 μm; 70x250 μm; 100x100 μm; 50x60 μm; 25x60 μm
- 探測系統(tǒng):CCD,分辨率2nm
- 樣品臺:真空吸盤,Z軸行程40mm
- 光斑可視系統(tǒng):CCD攝像機(jī)-視野1.33x1 mm-分辨率10μm
- 量角器:固定角70°,也可選擇66°或61.5°
- 多種附件可選
- 測試時間:<2s,常規(guī)為5s
- 準(zhǔn)確性:NIST 100nm d ± 4?, n(632.8nm) ± 0.002
- 重復(fù)性:NIST 15nm ± 0.2 ?
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Auto SE是一種新型薄膜測量工具。僅需簡單的幾個按鈕,幾秒鐘內(nèi)即可自動完成樣品測量和分析,并提供完整的薄膜特性分析報告,包括薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、表面粗糙度和薄膜的不均勻性、反射率或透過率。
Auto SE全自動化設(shè)計、一鍵式操作,功能齊全。配備自動XYZ樣品臺進(jìn)行成像分析,自動切換微光斑,多種附件可選,以滿足不同的應(yīng)用需求。
Auto SE借助完整的操作向?qū)В?span style="box-sizing:border-box;font-weight:bolder;">自動檢測并診斷問題,對故障進(jìn)行處理,儀器維護(hù)簡單
Auto SE是用于快速薄膜測量和器件質(zhì)量控制理想的解決方案。
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