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  • 產品名稱：真空紫外橢偏儀UVISEL 2 VUV 蘇州供應

  • 產品型號： UVISEL 2 VUV
  • 產品廠商：HORIBA堀場
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簡單介紹：
真空紫外橢偏儀UVISEL 2 VUV 蘇州供應UVISEL 2 VUV專為VUV 測量設計，整個系統處于真空狀態，無氧氣吸收。具備高準確性；超快測量速度；快速樣品室抽真空能力，方便快速更換樣品；氮氣消耗量少。光譜范圍可覆蓋147-2100nm。UVISEL 2 VUV能夠在充氮氣或抽真空模型下工作。整個機械設計經過優化，氮氣消耗量低至6L/min，載樣速度快，2分鐘內即可完成。真空樣品倉門朝向操作人員更便于樣品裝載。
詳情介紹：

真空紫外橢偏儀UVISEL 2 VUV 蘇州供應

UVISEL 2 VUV專為VUV 測量設計，整個系統處于真空狀態，無氧氣吸收。具備高準確性；超快測量速度；快速樣品室抽真空能力，方便快速更換樣品；氮氣消耗量少。光譜范圍可覆蓋147-2100nm。

UVISEL 2 VUV能夠在充氮氣或抽真空模型下工作。整個機械設計經過優化，氮氣消耗量低至6L/min，載樣速度快，2分鐘內即可完成。真空樣品倉門朝向操作人員更便于樣品裝載。

UVISEL 2 VUV在VUV波段具有高靈敏度，它集成了大功率雙光源、高通量光學系統以及CaF2光彈調制晶體和兩個時髦的單色儀。從147nm到850nm，樣品測量時間少于8分鐘，具有良好的信噪比。

UVISEL 2 VUV通過顯著減少氮氣消耗量、吹掃及測試時間，改變了VUV橢偏儀的世界。

DeltaPsi2軟件提供了從測試到建模分析，輸出報告，以及自動操作的全部功能控制，用戶界面直觀、友好，非常適用于科研及工業客戶使用。

UVISEL 2 VUV測試速度快、運行成本低，使其成為分析147nm到2100nm波段薄膜的理想工具。UVISEL 2 VUV橢偏儀可以定制化和自動化。

橢圓偏振光譜儀和FTIR-ATR聯合表征納米級高K介電材料
橢圓偏振光譜儀和FTIR-ATR聯合表征納米級高K介電材料
在互補式金屬氧化物半導體（CMOS）中，正在研究用高K介質材料替代傳統的SiO2或SiOxNy柵極介電層。本文對鉿鋁氧化物（HfAlO）進行了研究，其物理性能滿足此類應用的需求。鋁酸鉿薄膜的結構和組成以及HfAlO/Si界面對CMOS器件的優化具有非常重要的作用。文中采用兩VUV橢圓偏振光譜和紅外光譜（FTIR-ATR）共同表征薄膜的厚度、帶隙附近及以上光學的特性。


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