布基纳法索/澳洲时间/欧冠赛程16强赛程表/西甲历届积分榜 - 2024年土伦杯赛事规则

產品中心
產品詳情

  • 產品名稱：總代GD-Profiler 2?輝光放電光譜儀HORIBA堀場

  • 產品型號： GD-Profiler 2?
  • 產品廠商：HORIBA堀場
  • 產品價格：0
  • 折扣價格：0
  • 產品文檔：
你添加了1件商品 查看購物車
簡單介紹：
總代GD-Profiler 2?輝光放電光譜儀HORIBA堀場GD-Profiler 2? 可以快速、同時分析所有感興趣的元素，包括氣體元素N、O、H和Cl，是薄膜和厚膜表征和工藝研究的理想工具。GD-Profiler 2? 配備的射頻源可在脈沖模式下對易碎樣品進行測試，廣泛應用于高校以及工業研究實驗室，其應用范圍有腐蝕研究、PVD 涂層工藝控制、PV 薄膜開發以及LED 質量控制等。
詳情介紹：

總代GD-Profiler 2?輝光放電光譜儀HORIBA堀場

用輝光放電光譜儀去發現一個嶄新的信息世界

GD-Profiler 2? 可以快速、同時分析所有感興趣的元素，包括氣體元素N、O、H和Cl，是薄膜和厚膜表征和工藝研究的理想工具。

GD-Profiler 2? 配備的射頻源可在脈沖模式下對易碎樣品進行測試，廣泛應用于高校以及工業研究實驗室，其應用范圍有腐蝕研究、PVD 涂層工藝控制、PV 薄膜開發以及LED 質量控制等。

  • 射頻發生器是 E 類標準，對穩定性和濺射坑形狀都進行了優化以滿足實時表面分析。

  • 射頻源可以分析傳統和非傳統鍍層和材料，對于易碎樣品，還可以使用脈沖式同步采集優化測試。

  • 從 110nm到 800nm 同步全光譜覆蓋，包括分析 H、O、C、N 和 Cl 的深紫外通道。

  • HORIBA 研發的離子刻蝕型全息光柵具有高的光通量和光譜分辨率，光學效率和靈敏度都表現優良。

  • HDD 探測器兼具檢測速度和靈敏度。

  • 內置的微分干涉儀DIP可實時測量濺射坑深度和剝蝕速率。

  • 寬敞簡潔的大樣品倉易于裝卸樣品，操作簡單。

  • QUANTUM? 軟件配置了Tabler 報告編寫工具。

  • **激光中心定位裝置（**號：Fr0107986/國際**種類：G01N 21/67）可定位樣品測試位置。

 HORIBA 的輝光放電光譜儀可以選配單色儀，實現n+1元素通道的同時也提高了設備的靈活性。

  • 輝光源結合超快速、高分辨的同步光學器件，可對導體、非導體和復合材料進行快速元素深度剖析。

  • 適用于薄膜和厚膜——從納米到數百微米，且具有納米級深度分辨率。

  • 典型應用領域包括光伏、冶金、LED 制造、腐蝕研究、有機和微電子、材料研發、沉積工藝優化、PVD、CVD、等離子涂層、汽車、鋰電池等。

  • 不需要超高真空。

  • 使用高動態探測器可以測量所有感興趣的元素（包括 H、D、O、Li、Na、C、N 等）。

  • 可選附件單色儀配備的也是高動態探測器，可在image模式下做全譜掃描，極大的增加了設備的靈活性。

  • 脈沖式射頻源，可選擇在常規射頻模式和脈沖式射頻模式下工作，且可全自動匹配。

  • 輝光源采用差速雙泵真空系統，可為SEM制備樣品。

  • 內置等離子清洗功能。

  • 超快速濺射模式UFS可快速分析聚合物和有機材料。

  • 內置的微分干涉儀DIP，可直接在線測定深度。

  • 用于異形樣品測試的各種銅陽極和附件。

  • Windows 10 軟件 – 為遠程安裝提供多個副本



產品留言
標題
聯系人
聯系電話
內容
驗證碼
點擊換一張
注：1.可以使用快捷鍵Alt+S或Ctrl+Enter發送信息!
2.如有必要,請您留下您的詳細聯系方式!

蘇公網安備 32050502000409號