布基纳法索/澳洲时间/欧冠赛程16强赛程表/西甲历届积分榜 - 2024年土伦杯赛事规则

產品中心
產品展示
  • 可以立即測量優良量子效率（優良量子產率）。與粉末、溶液、固體（薄膜）和薄膜樣品兼容。低雜散光多通道光譜檢測器大大減少了紫外區的雜散光。此外，通過采用積分半球單元，可以實現明亮的光學系統，并通過利用這一點重新激發熒光校正，可以進行高精度的測量。此外，QE-2100 能夠測量量子效率的溫度依賴性，并支持從紫外到近紅外的寬波長范圍。
  • ELSZneo通過光散射評估物理特性 　　　　進入新階段]這是 ELSZ 系列的*高型號，可測量稀溶液至濃溶液中的 zeta 電位和粒徑以及分子量。作為一項新功能，我們采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。它還支持粒子濃度測量、微流變學測量和凝膠網絡分析。 新型 zeta 電位板單元具有新開發的高鹽濃度涂層，可在生理鹽水等高鹽濃度環境中進行測量。我們還有一系列超痕量細胞單元，可以測量 3 μL 的粒徑，擴展了生命科學領域的可能性。
  • 除了常規的zeta電位和粒度測量之外，它是一種可以用稀到濃溶液測量分子量的設備。 支持粒度測量范圍（0.6 nm 至 10 μm）和濃度范圍（0.00001% 至 40%）。可以使用*小容量為 130 μL 或更大的一次性電池進行測量，通過實際測量電滲流，可以實現高精度的 zeta 電位測量。 此外，通過在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內自動進行溫度梯度測量，可以進行變性/相變溫度分析。
  • 日本大冢高感度分光放射亮度儀HS-1000 日本大冢高感度分光放射亮度儀HS-1000 日本大冢高感度分光放射亮度儀HS-1000
  • 日本大冢高速配光測量系統GP-7 日本大冢高速配光測量系統GP-7 日本大冢高速配光測量系統GP-7
  • 日本大冢分光配光測量系統GP-4000 日本大冢分光配光測量系統GP-4000 日本大冢分光配光測量系統GP-4000
  • 日本大冢分光配光測量系統GP-2000 日本大冢分光配光測量系統GP-2000 日本大冢分光配光測量系統GP-2000
  • 日本大冢分光配光測量系統GP-1100 日本大冢分光配光測量系統GP-1100 日本大冢分光配光測量系統GP-1100
  • 日本大冢分光配光測量系統GP-500 日本大冢分光配光測量系統GP-500 日本大冢分光配光測量系統GP-500
  • 日本大冢高速LED光學特性儀 LE-SERIES-LE-5400 日本大冢高速LED光學特性儀 LE-SERIES-LE-5400 日本大冢高速LED光學特性儀 LE-SERIES-LE-5400
  • 日本大冢全光束測量系統 HM-SERIES 日本大冢全光束測量系統 HM-SERIES 日本大冢全光束測量系統 HM-SERIES
  • 日本大冢全光束測量系統 FM-SERIES 日本大冢全光束測量系統 FM-SERIES 日本大冢全光束測量系統 FM-SERIES
  • 日本大冢高速近場配光測量系統RH50 日本大冢高速近場配光測量系統RH50 日本大冢高速近場配光測量系統RH50
  • 日本大冢高速近場配光測量系統RH1000 日本大冢高速近場配光測量系統RH1000 日本大冢高速近場配光測量系統RH1000
  • 日本大冢高速近場配光測量系統RH600 日本大冢高速近場配光測量系統RH600 日本大冢高速近場配光測量系統RH600
  • 日本大冢高速近場配光測量系統RH300 日本大冢高速近場配光測量系統RH300 日本大冢高速近場配光測量系統RH300
    • 上一頁下一頁

蘇公網安備 32050502000409號