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它是一種緊湊且價格低廉的膜厚計，可通過高精度光學干涉儀以簡單的操作實現膜厚測量。 我們采用了一體式的機殼，在主機中容納了必要的設備，從而實現了穩定的數據采集。 通過以低價獲得優良反射率可以分析光學常數。
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多功能多通道光譜檢測器，支持紫外線至近紅外區域。光譜光譜至少可以在5毫秒內測量。標準光纖無需指定樣品類型即可支持各種測量系統。除了顯微光譜，光源發射，透射/反射測量之外，還可以通過與軟件結合來支持對象顏色評估，膜厚測量等。
