熱門搜索：
代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
產(chǎn)品中心
-
Stucchi思多奇
-
NITTO KOHKI日...
-
Sankei
-
KYOWA協(xié)和工業(yè)
- DIT東日技研
- AITEC艾泰克
-
SIGMAKOKI西格瑪...
- REVOX萊寶克斯
- CCS 希希愛視
- SIMCO思美高
- POLARI0N普拉瑞
- HOKUYO北陽電機(jī)
- SSD西西蒂
- EMIC 愛美克
- TOFCO東富科
-
打印機(jī)
- HORIBA崛場
- OTSUKA大冢電子
- MITAKA三鷹
- EYE巖崎
- KOSAKA小坂
-
SAGADEN嵯峨電機(jī)
- TOKYO KEISO東...
- takikawa 日本瀧...
- Yamato雅馬拓
- sanko三高
- SEN特殊光源
-
SENSEZ 靜雄傳感器
- marktec碼科泰克
- KYOWA共和
- FUJICON富士
- SANKO山高
-
Sugiyama杉山電機(jī)
-
Osakavacuum大...
-
YAMARI 山里三洋
- ACE大流量計
- KEM京都電子
- imao今尾
- AND艾安得
- EYELA東京理化
- ANRITSU安立計器
- JIKCO 吉高
- NiKon 尼康
- DNK科研
- Nordson諾信
- PISCO匹斯克
- NS精密科學(xué)
- NDK 日本電色
-
山里YAMARI
- SND日新
-
Otsuka大塚電子
- kotohira琴平工業(yè)
- YAMABISHI山菱
- OMRON歐姆龍
- SAKURAI櫻井
- UNILAM優(yōu)尼光
-
氙氣閃光燈
-
UV反轉(zhuǎn)曝光系統(tǒng)
-
UV的水處理
-
檢測系統(tǒng)
-
光照射裝置
-
點(diǎn)光源曝光
-
變壓型電源供應(yīng)器
-
超高壓短弧汞燈
-
UV光洗凈
-
UV曝光裝置
-
uv固化裝置
-
紫外可見光光度計
熱門品牌展示
產(chǎn)品展示
-
可以立即測量優(yōu)良量子效率（優(yōu)良量子產(chǎn)率）。與粉末，溶液，固體（薄膜）和薄膜樣品兼容。低雜散光多通道光譜檢測器大大減少了紫外線區(qū)域中的雜散光。另外，通過采用集成的半球單元，可以實(shí)現(xiàn)明亮的光學(xué)系統(tǒng)，并且通過利用此優(yōu)勢的再激發(fā)熒光校正，可以執(zhí)行高精度的測量。此外，QE-2100能夠測量量子效率的溫度依賴性，并支持從紫外到近紅外的寬波長范圍。
-
它是一種相位差測量設(shè)備，可支持所有類型的膜，例如OLED偏振片，層壓相位差膜和帶IPS液晶相位差膜的偏振片。 實(shí)現(xiàn)與超高Re.60000 nm兼容的高速，高精度測量。 可以“非破壞性地不剝離”地測定膜的層疊狀態(tài)。 此外，它配備了簡單的軟件和校正功能，可支持由于樣品重新定位而導(dǎo)致的未對準(zhǔn)，從而實(shí)現(xiàn)了簡單而高度**的測量。
-
“紫外光譜輻照度測量系統(tǒng)IL100”評估光源在紫外區(qū)域中的輻照度。 ?從分光光度計測量可高精度地測量照度? 從紫外線到可見光的測量波長范圍寬 ?可選擇適合于高斜入射特性等應(yīng)用的照度頭·可 用于生物系統(tǒng)評估中不可缺少的PFD測量 它是一種即使在紫外線區(qū)域也可以實(shí)現(xiàn)高精度測量的設(shè)備。
-
評估紫外線區(qū)域中光源的輻射度。 ? 通過分光輻射度測量可以高精度地測量亮度?支持紫外，可見光和紅外的寬波長測量范圍?可以進(jìn)行光生物學(xué) **性評估 它是可以測量紫外線亮度的受限設(shè)備。
-
評估UV LED的光分布特性。 ?根據(jù)輻射強(qiáng)度/輻照度評估光分布 ?通過光譜光分布評估每個波長的輻射強(qiáng)度 可視化**和樹脂固化光源的不均勻輻射。
-
評估UV LED的輻射通量。 ?高性能紫外線LED的輸出評估? 結(jié)合溫度控制單元的溫度評估 支持 UV-LED的 光學(xué)特性評估，該技術(shù)有望進(jìn)行**，純化和樹脂固化。
-
它是一種可以在薄膜生產(chǎn)現(xiàn)場在線測量薄膜厚度的裝置。 通過將原來的光譜干涉法與*新開發(fā)的高精度膜厚計算處理技術(shù)相結(jié)合，可以以至少測量間隔至少測量500 mm寬度的膜的膜厚（使用一個單元時）。 0.01秒
-
它可以測量從LED到照明的各種光源的總光通量。 ?積分球+分光鏡支持從總光通量到顏色測量的廣泛范圍 ·通過控制光源的加熱/冷卻可以評估溫度特性 ·系統(tǒng)可以共同控制DC / AC電源。麻煩的操作所需的 測量精度是高集成度的半球，樣本集易于 測量的瓦特級大功率激光源相應(yīng)的 測量系統(tǒng)從多年的經(jīng)驗(yàn)可以對應(yīng)任何場景的總光通量測量，滿足了需求。
-
一種測量照明設(shè)備的配光特性的設(shè)備。 ?使用內(nèi)部開發(fā)的分光鏡可以實(shí)現(xiàn)高精度的測量！ -可以與配光數(shù)據(jù)一起測量顏色！- 即使在光譜測量中，也可以實(shí)現(xiàn)相當(dāng)于照度計的高速測量！ ?根據(jù)配光測量結(jié)果可以進(jìn)行照明率分析！!! -符合標(biāo)準(zhǔn)的測量系統(tǒng)！ ?也可以由測量基準(zhǔn)部門提供技術(shù)支持！ 該設(shè)備可處理從室內(nèi)照明到泛光燈的各種照明設(shè)備，并滿足多種用途的需求。
-
除了可以進(jìn)行高精度薄膜分析的橢圓偏振光譜儀之外，我們還通過實(shí)現(xiàn)自動可變測量機(jī)制來支持所有類型的薄膜。除了常規(guī)的旋轉(zhuǎn)光子檢測器方法之外，通過為延遲板提供自動連接/分離機(jī)制，還提高了測量精度。
